В статье рассматриваются методологические проблемы оценки патентной эффективности затрат на НИОКР, обусловленные экономической сущностью научно-технологической деятельности. Даётся обзор подходов к экономико-статистическому анализу эффективности производства формализованных знаний в рамках отдельной фирмы и в национальной экономике. Анализируются основные экономические результаты оценки патентной эффективности научных затрат на микро- и макроуровне. Обосновываются важнейшие предпосылки и ограничения оценки патентной эффективности затрат НИОКР на макроуровне.
Ключевые слова: патент, научно-инновационная политика, экономико-статистический анализ, НИОКР, эффективность.
Домнич Егор Леонидович, старший лаборант-исследователь сектора экономики инноваций Института экономических исследований Дальневосточного отделения Российской академии наук
...
Полный текст этой статьи можете прочитать
здесь:Вестник БИСТ / N 1(5), март 2010 33
http://www.ufabist.ru/
